xrd怎么测试薄膜的厚度-搜答案-搜搜做题作业网

先查查卡片,看看样品的主强峰的2THETA角是多少,然后挑选主强峰跟这个2theta角相差10到20度范围的薄膜材料.

XRD可以吗?答：可以的!的确,应力分内应力和外应力,都可以用XRD定量测试.

单晶还是多晶做个TEM中的SAED电子衍射不就行了,是点阵就是单晶,是环状就是多晶,XRD上是不容易确定的.查看原帖

楼主, X射线衍射法,对样品测试收费要远高于红外光谱的.如果你是单纯想测量薄膜的精确厚度,可以用红外光谱法（IR),精确度可达cm^(-1)量级.在红外光谱范围内,1000cm^

“光程差是薄膜厚度的函数,薄膜厚度相等点的光程差相同”,是问这句话吧.薄膜厚度,就是指薄膜上表面到下表面的距离,要么题目里会给出,要么很好求,就以空气劈尖为例,厚度h=L×sinα,（阿尔法是劈尖角度

游标卡尺是工业上常用的测量长度的仪器,它由尺身及能在尺身上滑动的游标组成,如图2.3-1所示.若从背面看,游标是一个整体.游标与尺身之间有一弹簧片（图中未能画出）,利用弹簧片的弹力使游标与尺身靠紧.游

入射角度,射线强度等

对不起

所谓的薄膜干涉就是说当薄膜的厚度等于光的波长的时候,该光在薄膜的表面和里面的反射光形成叠加效果发生干涉,紫色光的波长是所有的可见光中最短的,所以薄膜的要求厚度也是最小.

若实验未开始,在蒸镀的时候,遮上一块硅片,根据探针测试法就可以知道二氧化硅薄膜厚度了.如果已蒸镀,可用氢氟酸和氟化氨溶液将二氧化硅腐蚀,不一定要劈尖状,因为量一下腐蚀彻底的边缘硅片厚度,再与硅片上二氧

一般情况下,形成的晶粒晶轴在各个方向上分布的机会是均等的,在做XRD时,不同的晶面间距形成不同的衍射峰,因为晶面上原子分布、不同原子衍射能力存在差异等原因,各个衍射峰强度存在差异.如果存在择优取向,作

由于重力因素,薄膜的厚度并不是均与分布的,而是上面薄,下面厚,这样导致了光束通过薄膜时具有不同的光程差,这样就导致了原光场分布相位的变化,可以在屏幕上观察到干涉条纹

一般都用微米一毫米=1000微米

首先你需要有标准薄膜最少5片按照梯度设置.此标准薄膜厚度你是知道的.然后用此薄膜做出一条吸光度曲线.建立好之后插入未知薄膜即可测得一个吸光度.一般的软件就可以直接计算出厚度了.这个和测定溶液浓度是一个

球面有凹陷,则凹陷处空气膜变厚,干涉条纹向圆心凹陷;球面有凸起,则凸起处空气膜变薄,干涉条纹向远离圆心方向,即向外凸出.不好理解的话想想劈尖验平整的情景.

XRD图谱反映出的就是X射线衍射后的强度,第一看图上的峰值所对应的角度,看在哪个角度上有最大值和峰值之类的.第二比较不同方式,看图谱是否有移动,利用图形软件求出每个图谱的转折点,比较不同方式是否有红移

约为1.38－1.40g/cm30.1888单位为mm,根据单位换算可以得出结论.聚酯薄膜密度所关于的典型性能：项目单位典型值测试方法厚度mm188250350DIN53370拉伸强度（MD/TD）M

看你的个人需要了.个人比较推荐X射线衍射曲线拟合分蜂法,当然要分峰了,还要出的峰比较漂亮.详细的还在钻研中~2.第一张图比第二张图高一般说明不了什么为题,你的峰值没有移动,因为XRD的图的强度（Int

利用压差法的原理设计,将预先处理好的试样放置在上下测试腔之间,下腔抽真空,这样气体会在压差梯度的作用下,由高压侧向低压侧渗透.精确测量通过低压侧的压力变化,计算试样的各项阻隔性参数.具体可以咨询西唐希

首先说一句,扫描速度和仪器有关,一般老仪器都比较慢（因为灵敏度低）粗扫随意,选个中间的数比如5度每分钟就行了精细测定的时候要慢,比如每步0.02度,停留1s之类的不同仪器设定不同,问实验室的人是最好的