薄膜干涉检测平整度,为什么单色光照射是,相邻亮条纹薄膜厚度差值为波长1.4

检测平整度用的是空气劈尖干涉原理,当光垂直入射时,在工件的上表面和玻璃板的下表面反射的光相干涉,当光波的光程差为波长的整数倍时,形成明条纹,为半波长的奇数倍时,形成暗条纹.而光程差取决于空气层的厚度,

样板的上下表面反射的光程差（厚度）太大,比起空气薄层来说.所以不至于干涉.还有光的振幅也有关系.

其原理是光的干涉.就是光遇到前表面和光遇到后表面反射形成相干光源,从而形成干涉.同时也折射,如果反射加强,则折射减弱,可称为增反膜.反之,则是增透膜.一般的参考书都会有详细的介绍.

一般检测平面的平整度用平行平晶来检测,平行平晶的面积都不会做太大（面积越大加工工艺越复杂成本越高）,也就是说通常平行平晶的面积是小于待测样品面积的,被检查平面放在下面,平晶放在上面移动,这样操作比较方

楼上居然一模一样复制我辛辛苦苦打的答案……楼主想要更详细些：光源发出的光有波长以及波长范围,波长较容易理解；自然界是不存在单色光的,单色光只是数学上的模型,物理上无法实现,实际中的光都有波长范围,也即

画出三角锥的刨面图,在下面画出薄膜的刨面图,在竖直方向画上平行光束,就行了!三角锥厚度减小,干涉形成的条纹数较少.

激光照射,反射光和光源分光干涉,看条纹的平整度.或者,往上面浇一层透明的油膜,看干涉条纹.

检验平整度就是看中间的空气层的厚度与光波长的关系平整时斜面是线性均匀变化的.凹凸的存在会进行扰乱凹凸时,相当于把临近区域厚度进行平移.那么,区域条纹也就改变

实验和理论都可以证明薄膜干涉条纹是等厚线,可以查看普通物理光学,这里文字少不能说完.相邻两亮条中心处薄膜的厚度差是λ/4

因为劈尖就是薄膜,同样,牛顿环也是薄膜,至于你提到的平行,的确是那样,推导的时候不仅假设平行,还假设入射光垂直表面,这样做都是为了简化模型,但是结果是对所有的薄膜都适用的.

两束反射光为斜面反射光和工件反射光,加入工件平整的话,以最左端为x轴沿着向右方向相同距离所产生的高度差是一样的,会观察到等间距的平行干涉条纹,若是不平整有凹陷的话条文会提前出现,有凸起的话条文会滞后出

半波损失发生条件,现行教材中有两种说法:一是:“当机械波从密度小的介质射到密度大的介质分界面时,会发生半波损失.”二是:“当机械波从ρu小的介质射到ρu大的介质分界面时,会发生半波损失.”

原干涉条纹（左侧对应为尖角位置,实线为亮纹,虚线为暗纹,且假设第二条亮纹对应的垂直位置上物体表面不平整）：｜┊｜┊｜┊（2）检验条纹（物体表面凸起时）｜┊（┊｜┊（3）检验条纹（物体表面凹陷时）｜┊）

“半波损失",就是当光从折射率小的光疏介质射向折射率大的光密介质时,在入射点,反射光相对于入射光有相位突变π,即在入射点反射光与入射光的相位差为π.n1n3所以反射光2没有半波损失,所以答案为2n2e

不是双缝干涉,而是薄膜干涉.

向左,因为凹下去的地方本来会出现条纹,由于凹下去的缘故,使样板与被测平面间的间距增大,若要产生条纹,就得使间距减小,与平整时的间距相同,使两列反射波叠加后出现亮或暗,所以光线只有向左移才会使间距与凹处

每一条条纹实际上都是高度差的等高线啦（等高线对应的光程差相等）.所以平整时是等距的,关于条纹随表面凹下突起的变化,就按地理上分析等高线的方法就行了.凹下时,凹下处厚度变大,所以条纹向薄的一侧突出,反之

盐里面有Na离子,可以使灯发出黄光,那样会使条纹更加清晰.

因为肥皂薄膜因为重力变成梯形,然后肥皂薄膜的前后表面的反射光就成了两个光源.然后就会有干涉了.梯形这个面上同个位置厚度都一样,所以就是横向的

薄膜干涉把金属丝圆环在肥皂液里蘸一下,环上就形成一层肥皂液薄膜．用单色光照射薄膜,薄膜上就产生明暗相间的干涉条纹（图6-4）．产生这种现象是由于照射到膜上的光会从膜的前表面和后表面分别反射回来,形成两