如何用jade在xrd图谱中标注晶面

利用谢乐公式来计算谢乐公式的应用方法Dc=0.89λ/(Bcosθ)(λ为X射线波长,B为衍射峰半高宽,θ为衍射角)双线法（Williams-Hall）测定金属晶体中的微观应力晶块尺寸小于0.1μm,

首先:2THETA值与晶面间距d有关(BRAGG定律),所以,你可以根据2THETA的位置,得到晶系和晶胞参数.即也可以定性.再次:峰的高度,可以用来定量或解析晶体结构,如果制样时产生了择优取向,还可

利用XRD图谱计算晶格常数,首先要确定样品的晶胞类型,然后利用图谱几个相对强度较大的峰,在标准图中找到相应的k,h,l和相应晶胞角度,带入相应的计算公式,就可以解出相应的晶格常数了:用JADE软件可以

方法一：用jade5.0或者6.0,很复杂,你百度个教程看看方法二：人工分析第一步,你先去把可能物质的标准PDF卡片找出来,标出那三种物质的晶系,晶格常数等信息,PDF卡片上都有.第二步,用内标法或者

用xrd图谱中的d值与标准的pdf卡片进行比对,先对三强峰的d值,误差不超过0.02就行,看看定性分析的书!很多的!

XRD是定性用的,但是也能做到不大准确的定量分析.首先和标准图谱对比,能知道其含量,具体方法：选择一个比较明显的特征峰,先算出标准图谱的这个特征峰的积分面积,然后把需要测试的样品的同一个特征峰的积分面

楼主,  X射线衍射法,对样品测试收费要远高于红外光谱的.如果你是单纯想测量薄膜的精确厚度,可以用红外光谱法（IR),精确度可达cm^(-1)量级.在红外光谱范围内,1000cm^

楼上的回答有误.如果你做的是粉末衍射的话,只有一个峰,你要先在pdf卡片中找到最可能的物相是哪一个,然后看你的物质和标准卡片对比少了的峰是哪些,还有就是你测试的物质这个唯一的峰对应的是不是标准卡片上的

其实在ppt中画任意曲线的功能足以满足一般的需要.你试试：在ppt界面上任意画一条直线,在其上点击右键-选择编辑顶点,在直线两端出现黑点,这是直线编辑状态.再在其上点击右键-选择“添加顶点”-线上增加

狕Pcaiqi(站内联系TA)这个时代基本上已经没有人再用origin通过XRD半高宽来计算晶粒度了.MaterialsDataInc（MDI）公司出品的JADE软件是用于X射线衍射数据处理和分析的软

峰位：如果不知道了待测物质是什么,通过峰位可以算出晶格常数,从而确定物质.如果已经知道了物质,算出的晶格常数应该跟你知道的物质的晶格常数差不多,差量可能是内应力引起的.可以据此分析内应力.峰宽：如果是

方法一：用jade5.0或者6.0,很复杂,你去百度个教程看看.方法二：人工解析第一步,你先去把可能物质的标准PDF卡片找出来,标出那三种物质的晶系,晶格常数等信息,PDF卡片上都有.第二步,用内标法

我有pentaerythritol,pdf卡片号48-0161再问：但是里面有Na2SO4-Na2O-SiO2-Al2O3-CH3OH这些是指什么呢她们的卡片号一样？你能帮我分析下我的谱图么我的Q是8

首先简单说下原理——角度θ为布拉格角或称为掠射角.关于XRD的测量原理比较复杂,要知道晶体学和X射线知识.简单的来说（对粉末多晶）：当单色X射线照射到样品时,若其中一个晶粒的一组面网（hkl）取向和入

应该是晶体结构再问：能具体点吗？3q再答：囧，我之前说错了。和别人讨论了一下，我们认为这是样品的来源。因为卡片库可由不同研究者向其提供发现的新物质的XRD谱图，审核之后汇总。用syn等注明用来建立该卡

分析XRD图谱,必须用到pdf卡片,一般都是使用MDIJade软件进行处理.而你看到的那些峰,实际上就是晶胞晶面的衍射峰.你会经常在文献上看到别人的XRD图衍射峰上有“某某物质（111）”指的就是这个

假设数据在A列B1单元格写入公式=IF(COUNTIF(A:A,A1)>1,"重复","")下拉复制公式或双击填充柄这样B列出现"重复"字样的行即为数据重复行也可以操作条件格式来标注选中A列--

对于加边框问题.将光标移动到底部的标尺上,右键选择Axis选项,点title&format选项,分别点左边框顶边框及右边框设置为显示状态

MaximumPeaktoNoiseRatio最大峰值信噪比

测试文本一测试文本二其他数据;\";Parserparser=newParser();//parser.setURLparser.setInputHTML(sText);parser.setEncod