搜搜做题作业网不同晶型二氧化硅的xrd
来源：学生作业帮助网 编辑：作业帮 时间：2024/04/29 05:50:55
这是非晶的典型谱线.
这种专业问题还是要到百度知道上来问吧!不会得到好的解答的!
自己看看!我对这个不懂,但是搜索了一下.http://emuch.net/html/200803/733621.html
我简单的回答你的问题X射线图谱可以测没一个面的晶粒大小也可以测平均晶粒尺寸pengjuan(站内联系TA)这个算的不是很准的,只能作参考.λ不用介绍了,是你做的XRD仪的波长；θ是最强峰的衍射角,要注
?:tiger05:zbdfwq5777(站内联系TA)利用软件拟合XRD就可以.利用软件拟合XRD就可以.X'pertPlus,GSAS,TOPAS,Fullpro等程序都可以,但初学者估计有一点难
16.623.8各有一个标识峰,30—40间有一簇峰,你可以用JADE或者pcpdf查找标准卡片.
峰强度受很多因素影响,压片等,但是峰位置一般是固定的.工业催化(站内联系TA)如果!是三个主要的衍射峰!位置一样!强度都比标准或高的话!基本是这种物质!但是三个峰有的比标准低有的比标准高的话!应该就不
这不是衰减,是要去除仪器的宽化效应得到真实线性来计算再问：那这种曲线一般怎么得到？
可以把几个图合并为一个图.先画好三个图,把横坐标设置为一样的.假设你的图谱的高度最大为20,三个图的纵坐标范围分别设为（0,60）（-20,40）（-40,20）,然后编辑菜单下拉,有个合并图层,点击
要比较一下某个相在某种原材料的不同参量下的结晶度或者分量有多少对空白样（没有参量的）做一个XRD检测,视为对比实验.
现在的XRD卡片都是和机器配套的,一般没有单独的.就是说你从厂家购买XRD仪,他会附带查询卡片给你.卡片统一由国际衍射资料中心出版,至1997年,已有卡片47组,包括有机、无机物相约67000张.因此
找到对应的物相的pdf卡片后,卡片上d值对应的晶面指数.
波数：3441.90cm-1处出现的较宽的吸收峰,对应于-OH基的反对称伸缩振动和对称伸缩振动.1629.68(HOH).1103.05(SiO)cm-1处出现的强吸收谱带归属于Si-O-Si的反对称
利用XRD图谱计算晶格常数,首先要确定样品的晶胞类型,然后利用图谱几个相对强度较大的峰,在标准图中找到相应的k,h,l和相应晶胞角度,带入相应的计算公式,就可以解出相应的晶格常数了,用JADE软件可以
XRD:X-RayDiffractionX射线也是一种电磁波,即光,虽然根据其波长范围有硬软X射线之分,但用于晶体结构测定的X射线都是硬X射线,其波长与晶体中原子间距离处于同一数量级上[10^(-10
二氧化硅silicondioxide化学式SiO2,式量60.08.也叫硅石,是一种坚硬难溶的固体.它常以石英、鳞石英、方石英三种变体出现.从地面往下16千米几乎65％为二氧化硅的矿石.天然的二氧化硅
不知道你提到的是哪种二氧化硅,沉淀法?气相法?无定形状态的二氧化硅表面有很多羟基,因而亲水,会被水润湿从而可以分散于水中.表面用硅烷化学改性后可以得到疏水性的二氧化硅,具有吸湿性低,易于分散于有机体系
聚集程度的差异.聚集程度高的可以形成网络将溶液固定,不能流动,即为凝胶；聚集程度低的,仍然具有流动性,即为溶胶.制备方法类似,差异在于控制体系硅酸钠的浓度和加酸的浓度数量以及速度.
光的干涉知道吧就是这个原理厚度不同,上下表面干涉效果不同